出售日本NoiseKen ESS-6008 靜電發生器
原裝正品！出售日本NoiseKen ESS-6008 靜電發生器（靜電槍）

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ESS-6008半導體器件靜電放電模擬試驗器,靜電是沿著物體移動而產生,而物體包含正、負電的電配置,當其配置失序,而傾向為一個極性時,靜電即產生,這個現象就稱為”帶電”,“帶電”主要是因為接觸,磨擦及剝落而產生;同時,靜電還有另一種現象稱為”感應帶電”。此外,盡管有些時候,當脫下毛線衣及在干燥狀態下接觸車輛門把時可能會有火花產生而也稱為靜電,正確地說,它應該稱為”靜電放電(ESD)”。

 

     ESS-6008半導體器件靜電放電模擬試驗器國內又叫做日本NOISEKEN ESS-6002/ESS-6008 LED靜電分析儀，即可以測試人體和機械兩種模式的靜電測試儀。而在當下LED行業發展迅猛，很多企業又將之稱做LED靜電分析儀。日本NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008半導體器件靜電放電模擬發生器已經生產10多年，最高機械模式可以達到8KV,并已經得到各行業的廣泛認可。相比國內的一些剛生產一年左右的產品來說，穩定性、精密性、認可度優勢已十分明顯。作為專業從事EMC設備研發與生產，和相關標準的制定者，NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008以它的卓越功能被廣泛認可。 

 

  在我們日常生活中,僅僅只是穿鞋及走在地毯上,很容易就可產生30kV靜電。“NoiseKen”ESD模擬試驗器(ESS-S3011/ESS-B3011/ESS-L1611)可再現及模擬來自帶電人體的ESD,用意是要測試電子設備在ESD影響下是否能正確地操作或發生故障?而且,模擬試驗器符合由IEC國際電工委員會標準化的IEC61000-4-2標準。而用于測試電子組件如半導體的ESD模擬試驗器,有ESS-6008(請參考目錄上之合格標準)。發生故障的過程是,當ESD發生到一電子設備時,表面電流在體表流動,而電位上升,結果,GND的電位變動,而接著產生電/磁雜訊,噪聲流到內部與電路耦合,因此,造成故障(請參下圖)。 由于這個現象可輕易地頻繁產生,因此,對電子設備進行測試乃是必須的。

 

特 點

 

考查實際上給電子設備安裝半導體元件時，半導體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。半導體元件因受靜電可能發生內部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導致產品特性裂化，誤動作的現象。對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細密間距元件做半自動的試驗。最適合用于進行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。精密型支架

 

·      可做最高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）

 

·      可做出留有余量的試驗

 

·      可對各種間距的受測元件進行靜電施加試驗

 

·      可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待

 

·      測物施加靜電

 

·      可做最低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）

 

·      對于低電壓驅動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加

 

·      可對應規格 

 

對應標準

 

人體模型試驗 (HBM)

機械模型試驗 (MM)

AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003

AEC-Q100-003-REV-E  Jul.2003

ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001

ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999

IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002

IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002

IEC 60749-26 Ed.1.0 2003

IEC 60749-27 Ed.1.0 2003

JEDEC JESD22-A114E Jan 2007

JEDEC JESD22-A115A Oct.1997

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001

MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989

 

 

規格

 

半導體器件靜電放電模擬試驗器 (ESS-6002/ESS-6008)

 

項目

功能/性能

ESS-6002

ESS-6008

輸出電壓

10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進

100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進

輸出極性

正或負

重復周期

0.3～99s±10％到10s為止0.1s步進 10s以后1s步進

放電次數 

1～99次/連續

Automatic output voltage ramping

Available

尺寸

（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）

尺寸

約6kg

 

簡易型探針臺 <18-00075A>

 

項目

功能/性能

尺寸/重量（探針臺主機）

(W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg

尺寸/重量（簡易放電板） 

(W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/約200g

鉗口尺寸

110mm

其他

POM造V型部件1個 標準附件

 

半自動精密型探針臺 <18-00076A>

 

由于半自動精密型探針臺的最小分辨率為0.01mm，所以可以簡單地對毫米間距和英寸間距等極小間距的半導體進行試驗

 

項目

功能/性能

尺寸/重量

(W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg

可對應IC

最大尺寸：40mm角 最小導線間距：0.4mm

X軸

手動 移動量：20mm ×燕尾槽、進給螺桿

Y軸

電動（zui大速度：13mm/s）移動量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步進馬達&滾珠螺桿

θ軸

手動 移動量：360°

Z axis

手動 移動量：20mm *內置彈簧下壓式

回原點

手動