OLS4500為您帶來最新的解決方案

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實現納米級觀測的新型顯微鏡。不會丟失鎖定的目標。

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涵蓋了低倍到高倍觀察，并配有多種觀察方法可以迅速發現觀察對象。

可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察。不僅如此，先進光學技術打造的光學顯微鏡帶來多種觀察方法，可以容易的發現觀察對象。此外，對于光學顯微鏡難以找到的觀察對象，還可以使用激光顯微鏡進行觀察。在激光微分干涉（DIC） 
觀察中，可以進行納米級微小凹凸的實時觀察。

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縮短從放置樣品到獲取影像的工作時間。

放置好樣品后，所有的操作都在1臺裝置上完成。可以迅速，正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面，所以只要掃描1次就能獲取所需的SPM影像。

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一體機的機型，所以無需重新放置樣品只要在1臺裝置上切換倍率、觀察方法就能夠靈活應對新樣品。 

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OLS4500實現了無縫觀察和測量

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【發現】可以迅速發現觀察對象

使用光學顯微鏡的多種觀察方法， 迅速找到觀察對象

OLS4500采用了白色LED光源， 可以觀察到顏色逼真的高分辨率彩色影像。它裝有4種物鏡， 涵蓋了低倍到高倍的大范圍觀察。OLS4500充分發揮了光學觀察的特長， 除了最常使用的明視場觀察（BF）以外， 還可以使用對微小的凹凸添加明暗對比， 達到視覺立體效果的微分干涉觀察（DIC）， 以及用顏色表現樣品偏光性的簡易偏振光觀察。此外， OLS4500上還配有HDR功能（高動態范圍功能）， 該功能使用不同的曝光時間拍攝多張影像后進行合成， 來顯示亮度平衡更好、強調了紋理的影像。在OLS4500上您可以使用多種觀察方法迅速找到觀察對象。

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使用激光顯微鏡，可以觀察到光學顯微鏡中難以觀察到的樣品影像

OLS4500采用了短波長405 nm的激光光源和高N.A.的專用物鏡， 實現了優異的平面分辨率。能以鮮明的影像呈現出光學顯微鏡中無法看到的觀察對象。在激光微分干涉（DIC）模式中還可以實時觀察納米級的微小凹凸。

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【接近】迅速發現觀察對象，在SPM上正確完成觀察

實現了無縫觀察，不會丟失觀察對象

OLS4500在電動物鏡轉換器上裝配了涵蓋低倍到高倍觀察的4種物鏡， 以及小型SPM單元。在光學顯微鏡或激光顯微鏡的50倍、100倍的實時觀察中， 由于SPM掃描范圍一直顯示于視場中心， 所以把觀察目標點對準該位置后， 只要切換到探針顯微鏡， 就能夠正確接近觀察對象。因此， 只需1次SPM掃描就能獲取目標影像， 從而能夠提高工作效率并降低微懸臂的損耗。

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不會在SPM觀察中迷失的、可切換式向導功能

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【納米級測量】簡單操作，可以迅速獲得測量結果

新開發的小型SPM測頭， 減少了影像瑕疵

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使用向導功能，自由放大SPM影像

使用向導功能， 可以觀察時進一步放大探針顯微鏡拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠標指針設置放大范圍并掃描， 就可以獲取所需的SPM影像。可以自由設置掃描范圍， 所以大幅度提高了觀察和測量的效率。

向導功能在10μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范圍

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優異的分析功能， 應對各種測量目的

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跟從向導畫面的指示， 可輕松操作的6種SPM測量模式

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接觸模式

控制微懸臂與樣品之間作用的排斥力為恒定的同時， 使微懸臂進行靜態掃描， 在影像中呈現樣品的高度。還可以進行彎曲測量。

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動態模式

使微懸臂在共振頻率附近振動， 并控制Z方向的距離使振幅恒定， 從而在影像中呈現樣品高度。特別適用于高分子化合物之類表面柔軟的樣品及有粘性的樣品。

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相位模式

在動態模式的掃描中， 檢測出微懸臂振動的相位延遲。可以在影像中呈現樣品表面的物性差。

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電流模式

對樣品施加偏置電壓，檢測出微懸臂與樣品之間的電流并輸出影像。此外，還可以進行I/V測量。

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表面電位模式（KFM）

使用導電性微懸臂并施加交流電壓， 檢測出微懸臂與樣品表面之間作用的靜電， 從而在影像中呈現樣品表面的電位。也稱作KFM（Kelvin Force Microscope）。

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磁力模式（MFM）

在相位模式中使用磁化后的微懸臂進行掃描， 檢測出振動的微懸臂的相位延遲， 從而在影像中呈現樣品表面的磁力信息。也稱作MFM（Magnetic Force Microscope）。

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裝配了激光掃描顯微鏡，靈活應對多種樣品

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輕松檢測85°尖銳角

采用了有著高N.A. 的專用物鏡和專用光學系統（能最大限度發揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

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高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓

由于采用405 nm的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡， OLS4500達到了0.12 μm的平面分辨率。因此， 可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯獨有的亮度檢測技術， OLS4500可以分辨出亞微米到數百微米范圍內的高度差。此外， 激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。

從大范圍拼接影像中指定目標區域

高倍率影像容易使視場范圍變小，而通過設置，OLS4500的拼接功能最多可以拼接625幅影像，從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數據。不僅如此，還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。

主機 規格

*該功能為選項功能。