.jpg "W系列白光干涉儀微觀形貌分析設(shè)備0.001納米超高分辨力")
商鋪名稱：深圳市中圖儀器股份有限公司
聯(lián)系人：羅建（先生）
聯(lián)系手機(jī)：
固定電話：
企業(yè)郵箱：sales@chotest.com
聯(lián)系地址：深圳市南山區(qū)西麗學(xué)苑大道1001號(hào)南山智園B1棟2樓
郵編：518071
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說(shuō)是在線纜網(wǎng)上看到的，謝謝！
| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 中圖儀器 CHOTEST | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 電源 | 100-240VAC | ||
| 50/60Hz | |||
| 重量 | 150KG | ||
| 測(cè)量行程 | 140×100㎜ | ||
| 測(cè)量范圍 | 320×200㎜ | ||
| 放大倍率 | 0.5×(0.75×，1×) | ||
| 適用范圍 | 三維微觀表面形貌測(cè)量 | ||
| 外形尺寸 | 900×700×604㎜ | ||
| 是否進(jìn)口 | 否 | ||
| 影像系統(tǒng) | 1024×1024 | ||
| 負(fù)載 | 10kg | ||
| 形貌重復(fù)性 | 0.1nm | ||
| 粗糙度RMS重復(fù)性 | 0.005nm | ||
| 臺(tái)階測(cè)量準(zhǔn)確度 | 0.3 | ||
| 臺(tái)階測(cè)量重復(fù)性 | 0.08 1σ | ||
| 可測(cè)樣品反射率 | 0.05~100 | ||
| 可售賣(mài)地 | 北京;天津;河北;山西;內(nèi)蒙古;遼寧;吉林;黑龍江;上海;江蘇;浙江;安徽;福建;江西;山東;河南;湖北;湖南;廣東;廣西;海南;重慶;四川;貴州;云南;西藏;陜西;甘肅;青海;寧夏;新疆 | ||
| 類型 | 白光干涉儀 | ||
| 型號(hào) | SuperViewW1 | ||
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
