Langer抗干擾開發系統E1套件
品牌：Langer EMV-Technik   
型號：E1 set
印刷電路板抗干擾性E1抗干擾開發系統

簡短介紹：
Langer抗干擾開發系統E1套件：
E1抗干擾性開發系統是一套集成電路板開發過程中進行抗干擾分析的 EMC工具系統。采用E1抗干擾開發系統，能夠快速精準地定位脈沖群干擾和靜電放電干擾的原因（薄弱點），使工程師開發人員能夠準確針對薄弱點設計恰當的 EMC措施，并且使用 E1 評估 EMC措施的效果。E1 檢測設備的搭建空間小，適宜于在電子元件開發人員的工作場地使用。E1 用戶手冊對EMC工作機制以及集成電路板去干擾的基本測量策略作出詳細描述。E1 組套包括一個脈沖群干擾和靜電放電干擾發生器、九種不同的電場和磁場源、以及其他各類附件。

Langer抗干擾開發系統E1套件配置:
1x SGZ 21, 脈沖群發生器 - 脈沖密度計數器
1x S21, 光學傳感器（10 Mbps）
1x BS 02
1x BS 04DB, 磁場源探頭
1x BS 05D, 磁場源
1x BS 05DU, 磁場源探頭
1x ES 00, 電場源探頭
1x ES 01, 電場源探頭
1x ES 02, 電場源探頭
1x ES 05D, 電場源探頭
1x ES 08D, 電場源探頭
1x MS 02, 磁場探頭
1x E1 acc
1x NT FRI EU
1x E1 case, System case
1x E1 m, E1系列 用戶手冊

詳細介紹：
SGZ 21脈沖群發生器 - 脈沖密度計數器
脈沖群發生器SGZ21產生零電勢脈沖狀干擾信號。它采用電氣隔離的對稱輸出。SGZ21的電流脈沖可以部分地與構件、電纜、屏蔽或者接地系統耦合；可以注入模塊，或者間接通過場源耦合進入受測設備。SGZ21內置一個脈沖密度計數器，通過光學輸入端口測量模塊產生的信號。

S21光學傳感器（10 Mbps）
S21 型傳感器是一個數字探頭，在猝發序列試驗中，無反作用地傳遞受試設備發出的數字信號。使用時將其固定在受試設備的電路板上，由受試設備供電。數字信號在傳感器中被轉換為光學信號，并通過光纖傳遞至接收器或示波器。

BS 04DB磁場源探頭
BS 04DB產生毫米級范圍的磁場束特別適用于定位敏感的導線部分、元器件及其連接器件。測試時用場源端部射出的電場束來掃描受試設備的表面。

BS 05D磁場源
BS 05D產生直徑大于3mm的磁場束。磁場線的方向與場源手柄成90°，因此特別適用于定位兩個集成電路板之間以及集成電路上很難靠近區域的薄弱點，例如元器件之間的區域。實際應用時，一般應該先用場源BS 02或BS 04DB對薄弱點進行粗略定位，而后再使用BS 05D進行精確定位。

BS 05DU磁場源探頭
BS 05DU產生毫米級范圍的磁場束。它的工作原理如同耦合鉗，能夠將干擾電流有選擇地耦合到單個導體、IC引腳、SMD原件以及細線（扁平帶狀線纜）。

ES 00電場源探頭
ES 00場源可用于產生大面積（150cm2）區域狀或線狀的耦合電場。有時受試設備的電場敏感點的區域會很大，如LCD顯示器及總線系統，其敏感區域可能會達到10?15厘米。使用如ES 00這樣大面積的電場場源，能夠測試出這樣的薄弱點。ES 00還可用于將干擾電流耦合給模塊。

ES 01電場源探頭
該場源探頭適合于向5至10厘米范圍內的區域狀或線狀薄弱點施加電場干擾，其范圍介于ES 02和ES 00之間。用ES 01還可以將干擾電流耦合給模塊。

ES 02電場源探頭
該場源的面積較大，能夠大范圍地向機箱表面及內部區域、連接件、帶導體結構的模塊以及集成電路（如總線系統，液晶顯示器）等施加耦合干擾電場。該場源的尖端部位，可用于定位對電場敏感的小面積薄弱點（導線、晶振、上拉電阻、IC等）。

ES 05D電場源探頭
該電場場源的探頭內有一個狹窄的線狀耦合電極，特別適合于向布線、小型元件及其連接器、線纜及單個的SMD元件如電阻和電容等施加電場，同時它還可以用于測量那些單個的接插件或扁平帶狀電纜的芯線。

ES 08D電場源探頭
電場源ES 08D是一個探針，用于檢查集成電路引腳或者布線等的敏感度。檢測時，探頭的尖端連接到引腳或布線。通過改變SGZ21的脈沖群強度檢測引腳的靈敏度。

MS 02磁場探頭
這種磁場探頭用于測量受試設備中的爆沖磁場。借此可以查明干擾電流的路徑。使用時，把這種磁場探頭接到SGZ 21脈沖群發生器。