正確認(rèn)識(shí)電容發(fā)熱及電容發(fā)熱的防范： 

   隨著電子設(shè)備的小型化、輕量化，部件的安裝密度高，放熱性低，裝置溫度易升高。尤其是功率輸出電路元件的發(fā)熱雖對(duì)設(shè)備溫度的上升有著重要影響，但電容器通過(guò)了大電流的用途（開關(guān)電源平滑用、高頻波功率放大器的輸出連接器用等）中，起因于電容器損失成分的功率消耗變大，使得自身發(fā)熱因素?zé)o法忽視。因此應(yīng)還在不影響電容器可靠性的范圍內(nèi)抑制電容器的溫度上升。
 
   電容器自身的發(fā)熱特性測(cè)量，應(yīng)在將電容器溫度極力抑制為對(duì)流、輻射產(chǎn)生的表面放熱或治具傳熱產(chǎn)生的放熱狀態(tài)下進(jìn)行。此外，在電容率的電壓依賴性為非線形的高電容率類電容器中，需同時(shí)觀察加在電容器上的交流電流與交流電壓。小容量的溫度補(bǔ)償型電容器應(yīng)具備100MHz以上高頻中的發(fā)熱特性，因此須在反射較少的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量。
   

  用雙極電源將信號(hào)發(fā)生器的信號(hào)增幅，加在電容器上。用電流探頭（通用探頭）觀察此時(shí)的電流，使用電壓探頭觀察電容器的電壓。同時(shí)用紅外線溫度計(jì)測(cè)量電容器表面的溫度，明確電流、電壓及表面溫度上升的關(guān)系。
 
  組成系統(tǒng)的設(shè)備及電纜類均統(tǒng)一為50Ω，將測(cè)量試料裝在形成微帶線的基板上，兩端裝有SMA連接器。用高頻波放大器（Amplifier）增幅信號(hào)發(fā)生器（Signal GENERATOR）的信號(hào)，用定向耦合器（Coupler）觀察反射同時(shí)即施加在試料（DUT）上。用衰減器（Attenuator）使通過(guò)試料輸出的信號(hào)衰減，用電力計(jì)（Power Meter）觀測(cè)。同時(shí)觀測(cè)試料表面溫度。作為高介電常數(shù)的片狀多層陶瓷電容器系列發(fā)熱特性的測(cè)量數(shù)據(jù)，3216型10uF的B特性6.3V的發(fā)熱特性數(shù)據(jù)、阻抗和ESR的頻率特性。

我們的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)： 

1、交期快捷：我們自2004年3月份引進(jìn)國(guó)外先進(jìn)的全自動(dòng)機(jī)器設(shè)備,生產(chǎn)實(shí)行全自動(dòng)化,產(chǎn)品質(zhì)量及交貨時(shí)間具有絕對(duì)保證,在行業(yè)中最具優(yōu)勢(shì)； 

2、產(chǎn)品耐高溫：目前在國(guó)內(nèi)外行業(yè)中獨(dú)家技術(shù),繞線產(chǎn)品所用線材采用進(jìn)口高溫材質(zhì),適應(yīng)回流焊,波峰焊及手工焊接所需工作環(huán)境及溫度,在特殊工作環(huán)境中使用本公司產(chǎn)品時(shí),確保電氣參數(shù)及性能不受環(huán)境因素而改變； 

3、價(jià)格合理：因全自動(dòng)化生產(chǎn)節(jié)省了大量人工成本,并且控制了生產(chǎn)作業(yè)當(dāng)中不良率及損耗的發(fā)生,從而節(jié)省了相當(dāng)一部份的材料成本,再加上制造技術(shù)專業(yè),所以產(chǎn)品價(jià)格在行業(yè)中最具性價(jià)比； 

4、參數(shù)穩(wěn)定：生產(chǎn)完工后,每批產(chǎn)品首先用高倍放大鏡對(duì)外觀實(shí)行全檢,測(cè)試儀表采用高精密的進(jìn)口儀表,并定期送國(guó)家權(quán)威機(jī)構(gòu)效驗(yàn),確保產(chǎn)品電器參數(shù)的準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性； 

5、焊接牢固：產(chǎn)品端面全部經(jīng)過(guò)特殊清潔,抗氧化處理,可焊性更強(qiáng),焊接后更牢固,確保產(chǎn)品無(wú)虛焊,假焊現(xiàn)象,儲(chǔ)存時(shí)間及使用壽命長(zhǎng)； 

6、環(huán)保節(jié)能：所有產(chǎn)品定期經(jīng)權(quán)威機(jī)構(gòu)（SGS）單位測(cè)試,均符合歐盟ROHS標(biāo)準(zhǔn)。 

產(chǎn)品包裝和售后服務(wù)： 

宇順制造0805/1206產(chǎn)品系列，一盤4000PCS/3000PCS，一箱100K。 

產(chǎn)品銷售售出后，宇順工程師持續(xù)為您提供技術(shù)支持和服務(wù)

 首先是陶瓷本體問(wèn)題-斷裂或微裂，這是最常見的問(wèn)題之一。斷裂現(xiàn)象較明顯，而微裂一般出在內(nèi)部，不容易觀察到，涉及到片狀電容的材質(zhì)、加工工藝和片狀電容使用過(guò)程中的機(jī)械、熱應(yīng)力等作用因素影響。

      其次是片狀電容電性能問(wèn)題。片狀電容使用一段時(shí)間后出現(xiàn)絕緣電阻下降、漏電。?????

以上兩個(gè)問(wèn)題往往同時(shí)產(chǎn)生，互為因果關(guān)系。電容器的絕緣電阻是一項(xiàng)重要的參數(shù)，衡量著工作中片狀電容漏電流大小。漏電流大，片狀電容儲(chǔ)存不了電量，片狀電容兩端電壓下降。往往由于漏電流大導(dǎo)致了片狀電容失效，引發(fā)了對(duì)片狀電容可靠性問(wèn)題的爭(zhēng)論。