高溫試驗(yàn)
80±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后,各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無(wú)變形、翹曲、脫膠等異常現(xiàn)象。按鍵凸點(diǎn)高溫下塌以及按力變小不作考核。
溫度范圍：10℃～210℃。
按GB/T 2423.1—89 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)》;
GB/T 2423.22—87 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
低溫試驗(yàn)
-30±2℃環(huán)境中放置4h,常溫下放置2h后, 各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無(wú)變形、翹曲、脫膠等異常現(xiàn)象。
溫度范圍：-70℃～10℃。
按GB/T 2423.2—89 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)》;
GB/T 2423.22—87 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)方法》
進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。
