歡迎咨詢1734-4IOL 電纜 一覽表2022已更新(今日/資訊)
.功能與參數測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區,放大區和飽和區.但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數值等.
2.同理對TTL數字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現象的分布
1.電路板故障部位的不完全統計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修電路板出現聯線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
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1734-485ASC |
1734-485ASCK |
1734-4IOL |
1734-4IOLK |
1734-8CFG |
1734-8CFGDLX |
1734-ACNR |
1734-ACNRK |
1734-ADN |
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1734-ADNX |
1734-AENT |
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1734-APB |
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1734-EP24DC |
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1734-OBV2SK |
1734-OE2C |
1734-OE2CK |
1734-OE2V |
1734-OE2VK |
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Beckhoff(倍福),Yaskawa(安川),Pepperl+fuchs(倍加福),B&R(貝加萊),Danfoss(丹佛斯)
,Fuji(富士),Festo(費斯托),Phoenix(菲尼克斯),Koyo(光洋),Yokogawa(橫河),
Heidenhain(海德漢),Hydac(賀德克),Hirschmann(赫斯曼),Keyence(基恩士),Moeller(穆勒),
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,bently (本特利)