1、測試條件對測量結果的影響
    首先考慮測量條件的問題，對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設定和測試頻率的設定上有區別，下表所示為不同容值的量測條件:

2、測量儀器的差異對測量結果的影響.
     大容量的電容（通常指1UF以上）測量時更容易出現容值偏低的現象，造成這種現象的主要原因是施加在電容兩端的實際電壓不能達到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由于儀器內部阻抗分壓的原因與實際顯示的設定電壓不一致。為了使測量結果誤差降到最低,我們建議將儀器調校并盡量把儀器的設定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓盡量調整,使實際于待測電容上輸的出電壓一致。

注意： 上表中所示的電壓是指實際加在測試電容兩端的有效電壓（理想電壓）。
由于測試儀器的原因，加在電容兩端實際的輸出電壓與設定的測量電壓(理想電壓）實際上可能會有所出入。

3、影響高容量電容容值測量偏低的因素

（1） 測試儀器內部的阻抗之大小影響.
   由于不同的測試儀器之間的內部阻抗都不同，造成儀器將總電壓分壓而使加在測試電容兩端的實際電壓變小。在實際的測試過程中，我們有必要先使用萬用表等工具測試夾具兩端的實際電壓，以確定加在測試貼片電容兩端的輸出電壓。

（2）不同阻抗的測試儀器的輸出電壓對比如下：
儀器內阻100Ω
1V * [100Ω/(100Ω+16Ω)] = 0.86V
10uF測試電容的兩端電壓 ：