產品簡介: 科特納JDSUOLT-55光損耗測試儀
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| 型號:JX064449OLT-20D光纖損耗測試儀 | 型號:JX122530SXJS-IV型智能介質損耗測試儀 | 型號:JX064457OLT-55光損耗測試儀 |
| 美國信維ShinewayTechOLT-20D光纖損耗測試儀詳細介紹 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| OLT-20D光纖損耗測試儀性能特點 OLT-20D光纖損耗測試儀產品簡介：
掌上型光纖損耗測試儀—功能實用的小光萬用表OLT-20系列是新一高效、多用型光纖測試儀表，具有掌上型、智能的優勢，可廣泛應用于城域網、廣域網、CATV等光網絡的開通、驗收以及日常維護場合，同樣適用于實驗室和野外測試。
功能特性：OLT-20系列光纖損耗測試儀將穩定光源模塊與光功率測量模塊有機地集成在一起，其快速測試特性有效減少了測試時間，且避免了由于不匹配的光源和光功率計波長讀數造成的文檔錯誤，可方便地實現光網絡的功率測試及環路損耗測試，同時，操作簡捷，降低了用戶的培訓負擔。
用戶可以在網絡裝、開通驗證、故障定位和維護等各個階段應用OLT-20系列手持式損耗測試儀，其實用的功能、易用性、現場的出色表現和堅固的設計使其成為所有光纖網絡（從多模LAN、本地網到CATV）測試的選擇。
產品特點
袖珍、大LCD顯示
直接測量損耗dB
環路損耗測試
功率測量dBm或μW
光源可輸出連續波CW和調制波MOD
調制頻率270/1K/2K Hz
可實現單光源端口雙波長輸出
低電壓指示顯示
自動關機功能節省電能
通過CE、FCC、FDA等認證
性能參數
注釋：
(1) 850nm波長的測試范圍的下限為：-60 dBm；
上述參數如有變，恕不另行通知。
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SXJS-IV型智能介質損耗測試儀是一種先進的測量介質損耗（tg）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗（tg）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印，使用方便、無需換算、自帶高壓，抗能力強等優點。SXJS-IV體積小、重量輕，是我廠的第三智能介質損耗測試儀。
SXJS-IV型智能介質損耗測試儀技術指標
1、環境溫度：0~40℃（液晶屏應避免長時日照）
2、相對濕度：30％~70％
3、供電電源：電壓：220V10％，頻率501Hz
4、外形尺寸：長寬高=4900mm300mm390mm
5、重量：約18kg
6、輸出功率：1KVA
7、顯示分辨率：4位
8、測量范圍：
介質損耗（tg）：0-50％
電容容量（Cx）和加載電壓：
2.5KV檔：300nF（300000pF）
3KV檔：200nF（200000pF）
5KV檔：76nF（76000pF）
7.5KV檔：34nF（34000pF）
10 KV檔：20nF（20000pF）
9、基本測量誤差：
介質損耗(tg)：1％0.07％（加載電流20A~500mA）正接
介質損耗(tg)：2％0.09％（加載電流5A~ 20mA）反接
電容容量( Cx )：1.5%1.5pF
SXJS-IV型智能介質損耗測試儀結構
儀器為升壓與測量一體結構，輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調，以適應各種需要，在測量對無需任何外部設備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。
SXJS-IV型智能介質損耗測試儀工作原理
儀器測量線路包括一路標準回路和一路測試回路，
標準回路由內置高穩定度標準電容器與標準電阻網絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測試品的電容容值（Cx）和其介質損耗（tg）。
數據采集電路全部采用高穩定度器件，采集板和采集計算機被鐵盒完全浮空屏蔽，儀器的外殼接地屏蔽；另外使用了光導數據、浮空地、大面積地、單點地、數字濾波等抗技術，加之計算機對數百個電網周期的數據進行處理，故測量結果穩定、、可靠。
由圖三可見，儀器高壓變壓器的高壓側和測量線路都是浮地的，用戶可根據不同的測量對象和測量需要，靈活地采用多種接線方式。如采用正接線法進行測量時，可將E點接地；而當采用反接線法進行測量時，可將UH點接地，而將E點浮空。
圖中除測試品Cx外，其余為本儀器。細線框內部分對儀器外殼能承受15KV工頻高壓5分鐘，額定耐壓10KV。儀器內附標準電容CN，名義值為50PF，tg0.0001，耐壓10KV。高壓變壓器，額定輸出功率為1KVA。
| 科特納JDSUOLT-55光損耗測試儀詳細介紹 | |
| OLT-55光損耗測試儀性能特點 科特納JDSU OLT-55光損耗測試儀介紹 JDSUOLT-55光損耗測試儀是JDSU的SMART(靈巧型)光手持式儀表，遠遠超出了基本要求。已經有超過70,000臺Acterna的手持式光表被全球用戶廣泛使用，Acterna又推出了新的SMART(靈巧型)系列手持式光表幫助您的網絡達到更高的性能。 新的OLT-55SMART光損耗測試儀是一個高性能、易于使用的儀表，它包括一個雙波長或三波長光源和一個光功率計。它是一臺通用儀表，用于對單模光纖與系統進行實驗室測試、(USB接口)測試、裝、維護與故障查找。可以同時測試多至三個波長(Tripletest)的損耗。只需用一根光纖跳線將光源與光功率計連接起來，對于所有內置波長進行快速參考測試，且不受當前測試模式的影響。此外，OLT-55可以被用作光功率計或者光源，具有OLS-55與OLP-55的相應特性。由于其獨有的內置自動調零功能，它創造了一個新的產業標準，即使對于非常低的功率或者很高的損耗也能夠獲得的測試精度。 JDSUOLT-55光損耗測試儀產品特點 業內個具有自動調零功能(正在申請專利)光功率計。即使對于高損耗測量也 能夠提供出色的精度，無需手動調零。 Auto-功能提供自動波長檢測以加速測試。TWINtest和新的TRIPLEtest功能可以 同時測量與顯示三個不同波長測試結果。 加亮的圖形界面使其在陽光下和黑暗環境中也能清晰地顯示測試結果。 功率計輸入端的反射限制功能減少了在適配器與光電二極管之間的多次反射，能 夠提高測試精度(適配器BN2014/00.xx)。 用于光功率計的通用光適配器，包括UPP適配器，能夠保證適用于現場的所有類 型連接器。 光源BN2150/00.xx的通用適配器能夠用于所有的連接器類型。 帶有輸出功率調整的激光源能夠確保為每個應用提供正確的功率輸出。 由于具有內置的光隔離器，能夠提供更高輸出功率穩定性。 USB接口提供方便的遠程控制與報告生成。 2286/01型 損耗測試模式 標稱波長(1)：1310nm與1550nm 光譜寬度(RMS）：5nm 光纖類型：9/125μm 信號穩定度(2)： 短期：±0.02dB，在15分鐘內 長期：±0.2dB，在8小時內 動態范圍：60dB 結果顯示：dB表示 分辨率：0.01dB 線性度(10)：±0.06dB±0.04nW 功率計模式 可調節波長范圍：780到1650nm，以1nm為步長 校準波長：850nm,1310nm,1550nm,1625nm 光電二極管：鍺(GE） 光纖類型：9/125到100/140μm 顯示范圍：-70到+20dBm 結果顯示：dBm,dB,mW,μW 分辨率：0.01dB 允許功率：+20dBm 固有不確定度(3)：±0.13dB(±3%） 整個測量精度（-60到+18dBm）： 850nm±0.25dB±0.8nW 1300,1310nm±0.2dB±0.2nW 1550nm±0.4dB±0.2nW 1625nm(4）±0.2dB±0.6nW 光源模式 標稱波長(1)：1310與1550nm 光譜帶寬(RMS)：5nm 端口數：單端口 光纖類型：9/125μm 輸出功率范圍(5)：-7dBm到0dBm，分別調節 功率設置分辨率：0.01dB 信號穩定度(2)： 短期穩定度：±0.02dB，15分鐘內 長期穩定度：±0.2dB，8小時內 輸出功率精度（標稱波長處)(10)：±0.3dB 模式：連續波(CW)，調制波（270Hz,1kHz,2kHz），Auto-(6）(信號編碼用于 功率計自動波長檢測） 2286/02型 損耗測試模式 標稱波長(1）：1310,1490與1550nm 光譜寬度(RMS）：5nm 光纖類型：9/125μm 信號穩定度(2)： 短期：±0.02dB，在15分鐘內 長期：±0.2dB，在8小時內 動態范圍：60dB 結果顯示：以dB表示 分辨率：0.01dB 線性度(11)±0.06dB±0.04nW 功率計模式 可調節波長范圍：780到1650nm，以1nm為步長 校準波長：850nm,1310nm,1550nm,1625nm 光電二極管：鍺(GE） 光纖類型：9/125到100/140μm 顯示范圍：-70到+20dBm 結果顯示：dBm,dB,mW,μW 分辨率0.01dB 允許功率：+20dBm 固有不確定度(3)：±0.13dB(±3%) 整個測量精度(-60到+18dBm）： 850nm±0.25dB±0.8nW 1300，1310nm±0.2dB±0.2nW 1550nm±0.4dB±0.2nW 1625nm（4）±0.2dB±0.6nW 光源模式 標稱波長(1)：1310,1490與1550nm 光譜帶寬(RMS）：5nm 端口數：單端口 光纖類型9/125μm 輸出功率范圍(5）-7dBm到0dBm(10)，分別調節 功率設置分辨率0.01dB 信號穩定度(2) 短期穩定度：±0.02dB，15分鐘內 長期穩定度：±0.2dB，8小時內 輸出功率精度(標稱波長處)(10)：±0.3dB 模式：連續波(CW），調制波(270Hz,1kHz,2kHz)，Auto-(6)(信號編碼用于功 率計自動波長檢測) 2286/03型 損耗測試模式 標稱波長(1）1310，1550與1625nm 光譜寬度(RMS）5nm 光纖類型9/125μm 信號穩定度(2) 短期：±0.02dB，在15分鐘內 長期：±0.2dB，在8小時內 動態范圍60dB 結果顯示以dB表示 分辨率0.01dB 線性度(10)±0.06dB±0.04nW 功率計模式 可調節波長范圍780到1650nm，以1nm為步長 校準波長850nm,1310nm,1550nm,1625nm 光電二極管鍺(GE） 光纖類型9/125到100/140μm 顯示范圍-70到+20dBm 結果顯示dBm,dB,mW,μW 分辨率0.01dB 允許功率+20dBm 固有不確定度(3）±0.13dB(±3%) 整個測量精度(-60到+18dBm) 850nm±0.25dB±0.8nW 1300，1310nm±0.2dB±0.2nW 1550nm±0.4dB±0.2nW 1625nm（4）±0.2dB±0.6nW 光源模式 標稱波長(1）1310,1550與1625nm 光譜帶寬(RMS）5nm 端口數單端口 光纖類型9/125μm 輸出功率范圍(5）-7dBm到0dBm，分別調節 功率設置分辨率0.01dB 信號穩定度(2）短期穩定度：±0.02dB，15分鐘內 長期穩定度：±0.2dB，8小時內 輸出功率精度±0.3dB (標稱波長處)(10） 模式連續波(CW），調制波(270Hz,1kHz,2kHz）， Auto-(6）（信號編碼用于功率計自動波長檢測 |
