半導體wafer晶圓顆粒缺陷表面檢查燈 黃綠光表面檢查燈 白光表面檢查燈

半導體wafer晶圓顆粒缺陷表面檢查燈是一款黃綠光表面檢查燈（或者是白光），人眼敏感的黃綠光照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼很容易識別出半導體（晶圓/晶片）表面的缺陷，提高工作效率。可精確檢查到1um以下的瑕疵缺陷，擁有有綠光和黃光2種顏色的復合光，光源強度可達40萬LX，比傳統的檢查燈，效用增強10倍！除了可以應用在半導體晶圓晶片表面瑕疵檢查，還可以檢查例如：液晶玻璃、液晶屏幕、汽車玻璃、基材……表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。