關(guān)于凱特的膜厚計 膜厚計的種類和用途 對使用金屬的工業(yè)產(chǎn)品，在表面進行涂飾和鍍金等處理。在表面處理層中，薄的話容易產(chǎn)生腐蝕，厚的話經(jīng)濟損失會變大，而且厚度不一定的話會降低不美觀的商品價值。也就是說，在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的，承擔(dān)這一點的測定器是膜厚計。 根據(jù)素地金屬和測定的涂層的組合，有測定原理不同的幾種陣容，請選擇合適的種類。 電磁膜厚計的測量原理 渦流膜厚計的測量原理 磁性核 使交流電磁鐵接近鐵（磁性金屬）的話，根據(jù)接近距離，貫穿線圈的磁通數(shù)會發(fā)生變化，因此線圈兩端的電壓會發(fā)生變化。 從電流值讀取該電壓變化 取，換算成膜厚。 可以測量磁性金屬上的非磁性涂層。 絕緣體鐵芯 如果將流過一定高頻電流的感應(yīng)線圈靠近金屬，金屬表面會產(chǎn)生渦流。這個渦流根據(jù)感應(yīng)線圈和金屬面的距離而變化，因此感應(yīng)線圈兩端的電壓也會變化。 將此變化從電流值轉(zhuǎn)換為讀取膜厚度。可以測量非磁性金屬上的絕緣涂層。 磁場 二次線圈涂層磁性金屬 磁場 皮膜 非磁性金屬渦流 ■：電磁膜厚計■：渦流膜厚計F：費舍爾鏡：可附帶條件? ※不銹鋼材質(zhì)有時不能根據(jù)條件進行測定。請事先咨詢。□空欄部分的組合可能會有一部分可以測定。請咨詢。 ■附屬?選配標準板一覽（產(chǎn)品附帶的標準板與下表不同，是實測的近似值） 容器種類 張數(shù) 厚度（μm） 材質(zhì) LE-200J/LZ-200J 6 10 50 100 350 800 1000 LH-200J 5 10 50 100 350 800 LE-373/LZ-373 6 10 50 100 500 1000 1500 LH-373 5 10 50 100 500 1000 聚酯薄膜 LZ-990 3 50 100 1000 所有設(shè)備類型通用選項 ー 10 25 37 50 75 100 125 250 300 350 500 700 800 1000 1500 類型 鋼筆型探頭（標準附屬）：LEP-J/LHP-J 管內(nèi)面測定用探頭（選配件）：LEP-22 對應(yīng)器種類 LE-200J/LH-200J/LZ-200J LE-373/LH-373/LZ-373 LE-200J 尺寸 類型 L型探頭（選配件）：LEP-21L 對應(yīng)器種類 LE-200J/LZ-200J LE-373/LZ-373 測定方式 容器種類 規(guī)格 電磁感應(yīng)式 LE-200J LE-373 JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦流式 LH-200J LH-373 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376 雙重 LZ-200J LZ-373 電磁感應(yīng)式時 JIS K5600-1-7、JIS H0401、JIS H8401、JIS H8501、JIS H8641 ISO 1460、ISO 2064、ISO 2178、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 類型 LZ-990 渦流式的情況 JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H8680-2 ISO 2064、ISO 2360、ISO 2808、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 244、 ASTM D 7091-5、ASTM E 376電磁膜厚計LE-200J
主要規(guī)格
測量方式 電磁感應(yīng)式 測量目標 磁性金屬上的非磁性涂層 測量范圍 0-1500μm或60.00密耳 測量精度 小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％ 解析度 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm 符合標準 JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 統(tǒng)計功能 測量次數(shù)，平均值，標準偏差，最大值，最小值，程序段號 探測 單點接觸恒壓型（LEP-J） 顯示方式 數(shù)字（LCD，最小顯示位數(shù)0.1μm） 外部輸出 RS-232C接口（傳輸速度2400bps） 電源供應(yīng) AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機x 6，打印機x 4 尺寸/質(zhì)量 120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤 配件 標準板（10μm，50μm，100μm，350μm，800μm，1 mm，所有近似值，各1張），鐵底座，標準板盒，電池1.5 V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機紙，攜帶案件 選項 L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp” １次線圈電壓的變化子文件電壓的變化被膜厚計的種類分類/可測量的基底和涂層
■探測一覽
■膜厚計適用規(guī)格一覽
電磁膜厚計LE-200J